創(chuàng)新點(diǎn)
數(shù)字500萬級別以上的CCD攝像頭
全自動0.1微米級別的載物臺
圖像處理與分析軟件
電腦和打印機(jī)
產(chǎn)品性能
檢測顆粒≥1um
自動測量并計(jì)算出單個顆粒的面積、寬度、內(nèi)切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸
高精度XYZ三軸自動掃描臺，可執(zhí)行自動聚焦功能
高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭
單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時間和評價(jià)時間最小1分鐘
自動調(diào)節(jié)光強(qiáng)、自動聚焦、多視場自動掃描、自動采集圖像、自動顆粒統(tǒng)計(jì)分析
自動辨別金屬顆粒、非金屬顆粒
自動查詢最大顆粒的粒徑和數(shù)量
在硬件支持條件下軟件終身免費(fèi)升級服務(wù)
技術(shù)參數(shù)
系統(tǒng)組成
該系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：
正置式偏振光光學(xué)顯微鏡
數(shù)字500萬級別以上的CCD攝像頭
全自動0.1微米級別的載物臺
圖像處理與分析軟件
電腦和打印機(jī)
等部分組成；
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；
專用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；
顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進(jìn)行處理與分析；
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；
系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
檢測顆粒≥1um
自動測量并計(jì)算出單個顆粒的面積、寬度、內(nèi)切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸
高精度XYZ三軸自動掃描臺，可執(zhí)行自動聚焦功能
高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭
單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時間和評價(jià)時間最小1分鐘
自動調(diào)節(jié)光強(qiáng)、自動聚焦、多視場自動掃描、自動采集圖像、自動顆粒統(tǒng)計(jì)分析
自動辨別金屬顆粒、非金屬顆粒
自動查詢最大顆粒的粒徑和數(shù)量
在硬件支持條件下軟件終身免費(fèi)升級服務(wù)
測試部件
發(fā)動機(jī)及傳動系統(tǒng) (閥體，凸輪軸，曲軸，變速箱， 車輪等部件)
液壓元件 (ABS，ESP，轉(zhuǎn)向系統(tǒng)等部件)
油路供給系統(tǒng) (閥體，管件，管路零部件等)
電子組件
應(yīng)用場合更加廣泛，航空、航天、航海、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車、制造等領(lǐng)域進(jìn)行固體顆粒污染度檢測。
基本配置
型號：PLD-MPCS2.0~10.0
儀器性能：測試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬像素
標(biāo)尺刻度：0.1μm
分析項(xiàng)目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等
自動分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%
軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
具體詳情請電詢普洛帝中國服務(wù)中心！
常見問題
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