隨著半導體技術(shù)的不斷發(fā)展，對工藝技術(shù)的要求越來越高，特別是對半導體圓片的表面質(zhì)量要求越來越嚴，其主要原因是圓片表面的顆粒和金屬雜質(zhì)沾污會嚴重影響器件的質(zhì)量和成品率，在目前的集成電路生產(chǎn)中，由于圓片表面沾污問題，仍有50%以上的材料被損失掉。

不溶性微粒檢查儀對大輸液的顆粒管控，遵循中國藥典2020版附錄C0903不溶性微粒檢查法的不溶性微粒檢查，同時可以進行在線過程質(zhì)量控制和產(chǎn)品評價。

?近日，英國普洛帝分析測試集團顆粒計數(shù)事業(yè)部（不溶性微粒）宣布推出其在藥品檢測方面的新型PLD-601系列不溶性微粒檢測儀及配套自動取樣系統(tǒng)（涵蓋試劑和耗材），PLD-601系列不溶性微粒檢測儀的推出是PULUODY落實其新品開發(fā)計劃的標志性里程碑，并且將公司液體顆粒檢測的應用延伸到生命科學和醫(yī)藥檢測領(lǐng)域。

水中顆粒計數(shù)器,水中顆粒計數(shù)儀,在線顆粒計數(shù)儀,水中顆粒監(jiān)測儀

清劑產(chǎn)生液體顆粒污染主要原因及管控辦法清劑化學品雜質(zhì)來源主要由以下幾種方式引入：一是原料帶入。即需要凈化的原料本身的雜質(zhì)；二是外界引入。由于高純電子級酸多具有強腐蝕性,在實驗和存貯過程中接觸的器皿如不銹鋼設(shè)備 、管道 、泵閥 、螺絲等，塑料設(shè)備和包裝存貯材料(往往含有增塑劑增強劑&

隨著科技和現(xiàn)代工業(yè)的進步與發(fā)展，許多行業(yè)對工作 介質(zhì)(氣體和液體)以及生產(chǎn)環(huán)境的潔凈度(污染度)檢 測提出了越來越高的要求。為了定量描述介質(zhì)的清潔程度， 世界上很多國家都制定了潔凈度檢測和控制標準，將介質(zhì) 中微小顆粒污染物的數(shù)量和粒徑大小作為衡量其潔凈度的 重要指標。檢測液體介質(zhì)中顆粒的方法有很多，有間接通