航天零部件顆粒污染度管控標(biāo)準(zhǔn)

   一、適用范圍 

   適用于航天液壓、伺服、閥、管路、噴嘴、發(fā)動機部件、精密機構(gòu)等零部件在清洗、裝配、試驗、貯存全過程的不溶性顆粒污染度控制與判定。

二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

- GJB 5964《航天產(chǎn)品清潔度要求》

- GJB 3837《航天液壓系統(tǒng)清潔度控制》

- NAS 1638《航空航天流體顆粒污染等級》

- ISO 4406《流體清潔度代碼》

- ISO 16232 / VDA19.1《零部件清潔度—顆粒計數(shù)方法》

 三、管控對象

1. 零部件表面不溶性顆粒

2. 清洗液、工作液、試驗液中的懸浮顆粒

3. 潔凈環(huán)境浮塵顆粒

 四、管控粒徑

 ≥0.5μm、≥1μm、≥5μm、≥15μm、≥25μm

 五、等級要求（航天通用）

1. 關(guān)鍵件（閥、伺服、噴嘴、管路、發(fā)動機組件）NAS 1638 1～3級

2. 一般精密件NAS 1638 4～5級

3. 清洗終洗液≥5μm 顆粒 ≤1 個/mL，≥15μm 顆粒 0 個

 六、檢測方法

1. 使用普洛帝PMT-2液體顆粒計數(shù)器（第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，雙精準(zhǔn)流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對清洗劑、半導(dǎo)體、超純水、電子產(chǎn)品、平板玻璃、硅晶片、煤炭粒度等，產(chǎn)品的在線或離線顆粒監(jiān)測和分析）：直接檢測清洗液顆粒數(shù)與粒徑分布。

2. 萃取濾膜法：沖洗/超聲萃取 → 濾膜過濾 → 顯微鏡計數(shù)。

3. 環(huán)境檢測：潔凈室/潔凈臺按 ISO 14644-1 執(zhí)行。

 七、過程管控要求

1. 新液、循環(huán)液、終洗液三級過濾。

2. 檢測前必須做空白驗證。

3. 關(guān)鍵件100%全檢，不合格嚴(yán)禁轉(zhuǎn)入下道工序。

4. 檢測數(shù)據(jù)、環(huán)境、儀器、人員信息可追溯。

 八、判定規(guī)則

所有粒徑顆粒數(shù)均滿足對應(yīng)等級要求 → 合格任一尺寸顆粒超標(biāo) → 不合格，需重新清洗并復(fù)檢。